ANF : Contrôle qualité et diagnostic des systèmes d’imagerie photonique

Le « contrôle qualité ou la métrologie » des systèmes de microscopie photonique est devenue indispensable à toutes plates-formes d’imagerie et/ou laboratoires en lien avec l’imagerie au cours de ces dernières années : pour l’obtention de nouveaux contrats avec des partenaires privés et pour l’obtention de soutien financier auprès de nos régions et de nos tutelles. Le contrôle qualité ou la métrologie, science de la mesure, peut également s’inscrire dans le cadre d’une démarche qualité de type ISO 9001 et/ou NFX-50-900 entreprise par une plate-forme et/ou d’un laboratoire. Le contrôle qualité ou la métrologie apportera les garanties d’une bonne maintenance et du bon état des équipements d’imagerie.